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    蔡司:質量測量-----測量傳感器的發展

    發布時間:2019-08-14 13:56:10作者:來源:點擊:

        傳統上,坐標測量機(CMM)通常配備觸摸式觸發探頭,該觸發式探頭將在預定位置接觸部件,一次采用一個測量點。雖然這種方法有利于確保高度準確的測量數據,但對于具有嚴格的期限或高尚生產目標的制造商來說,它并不理想。作為回應,各種傳感器被引入市場,提供不同水平的能力。

      與傳統的觸發式測量相比,這些新型傳感器類別中的一種掃描探頭可以更快地檢測零件。CMM沿著零件輪廓移動探頭,一次捕獲數千個點。掃描探針對于評估零件特征(如形狀,位置和尺寸)特別有效。

      與觸發式探測方法相比,掃描探針還可以顯著縮短測量周期時間。但是,對于具有困難幾何形狀或多種材料類型的零件,激光線掃描儀可以更好地靈活地捕獲表面形狀特征并生成點云,而無需物理接觸零件。該傳感器類別使制造商能夠獲得零件的3D視點以研究截面并提取某些特征。

      所有這些傳感器選項都在市場中占有一席之地,但每種不同的方法都會犧牲速度,靈活性或準確性,具體取決于探頭。對于某些應用來說,觸覺探測可能會很慢,而激光掃描儀通常不夠準確,無法滿足當今具有挑戰性的公差要求。這些現實帶來了頻率調制干涉測量光學距離測量的另一種傳感器演變。

      這種非接觸式光學傳感系列結合了速度,可達性和距離測量精度。干涉測量提供與觸覺掃描探針相當的準確性和可靠性,更高的掃描速度,更高的測量范圍和非接觸式測量的一般光學優勢。當速度很重要時,這是高精度觸覺測量的下一代替代方案,使用觸覺探針難以接近零件,或者零件可能因觸摸探測而變形或損壞。

      昆山友碩專注蔡司三坐標測針,ZEISS 三坐標測量機、蔡司三維掃描儀銷售與售后及應用解決方案十數年。更多關于蔡司三坐標的問題請咨詢具體銷售人員,本文由蔡司三坐標測量儀官方授權商友碩工程部小編Nicole整理完成,轉載請注明出處。

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